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Nicomp 380 Z3000 纳米粒径与Zeta电位分析仪
(步长0.9°)检测分析液态纳米颗粒系的粒度及粒度分布,又可以小角度测量Zeta电位。粒度测试范围:0.3 nm – 10 µm。 NICOMP 380 Z3000纳米粒径与电位分析仪通过检测分析
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Nicomp Z3000 纳米粒径与Zeta电位分析仪
380 Z3000 亚微米粒径电位检测仪 参数: 粒径测量范围粒度分析:0.3 nm - 10 μm分析方法粒度分析:动态光散射,Gaussian 单峰算法和 NiComp 无约束自由拟合多峰
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Nicomp 380 在线粒径检测仪
搭载ZETA电位检测模块,还可增加自动稀释和自动滴定等辅助测试模块工作原理:动态光散射原理 Nicomp 380纳米粒径分析仪采用动态光散射(Dynamic Light Scattering, DLS
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380 Z3000 纳米粒度仪
仪器参数: 粒径测量范围粒度分析:0.3 nm – 6μmZeta电位:1nm – 30μm分析方法粒度分析:动态光散射,Gaussian 单峰算法和 NiComp 无约束自由拟合多峰算法
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Nicomp 380 N3000 纳米激光粒度仪
仪器参数: 粒径测量范围粒度分析:0.3 nm - 6 μm分析方法粒度分析:动态光散射,Gaussian 单峰算法和 NiComp 无约束自由拟合多峰算法pH值范围2 - 12温度范围0
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Nicomp 380 DLS 纳米粒径检测仪
NICOMP 380DLS产品优势 检测范围大0.3 nm -10 μm绝对测量无需校准应用领域广检测速度快灵敏度高对团聚粒子灵敏度高(D6)复合型算法高斯(Gaussion)单峰算法与zl的
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Nicomp 380 N3000 纳米激光粒度仪
)外形尺寸56 cm * 41 cm * 24cm重量约26kg(与配置有关)专为复杂体系提供高精度粒度解析方案 Nicomp 380 N3000 纳米粒径分析仪采用动态光散射原理检测分析颗粒的粒度
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动态光散射粒度分析仪
方便地扩展?Zeta?电位等其它功能。 Nicomp 380DLS 基本概述:Nicomp 380 DLS是纳米粒径分析仪器,采用现在先进的动态光散射原理,利用zl的Nicomp多峰算法可以
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纳米粒径分析仪
基本概述:Nicomp 380 纳米粒径分析仪 是纳米粒径分析仪器,采用现在先进的动态光散射原理,利用zl的Nicomp多峰算法可以很准确的分析比较复杂多组分混合样品。为实验室的研究提供zei
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激光粒度电位检测仪
激光粒度电位检测仪 仪器参数: 粒径测量范围粒度分析:0.3 nm - 10 μm分析方法粒度分析:动态光散射,Gaussian 单峰算法和 NiComp 无约束自由拟合多峰算法pH值范围2
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